一、维修前准备：环境与工具适配

红外光谱系统的光学 / 探测组件对湿度、粉尘、静电极度敏感，维修前需满足基础环境要求，避免二次损坏：

环境控制

维修空间湿度≤40%（建议开启除湿机），温度 20-25℃，无明显粉尘（优先在洁净工作台内操作）；

提前关闭设备总电源，拔掉电源线，等待 30 分钟以上释放电容残留电荷。

二、分组件维修流程

1. 干燥分子筛：失效更换（核心前置步骤）

干燥分子筛的作用是吸附系统内湿气，其失效是导致窗片、探测器潮解的根本原因，需优先更换，避免维修后新组件再次受潮：

拆卸步骤

打开设备侧面板（用防静电螺丝刀拧下固定螺丝，注意面板内侧线路，避免拉扯）；

定位分子筛仓（通常为圆柱形 / 方形透明 / 金属腔体，标注 “Desiccant” 标识），拧下仓体两端的密封盖（部分需用镊子辅助拆卸卡扣）；

倒出失效的分子筛（失效特征：颜色由蓝色变为粉色 / 白色，颗粒结块），用氮气吹尘枪清理仓体内残留粉尘（禁止用水或酒精清洗仓体）。

更换与安装

装入新的 3A/4A 分子筛（填充量为仓体容积的 80%，避免过满导致气流堵塞）；

重新安装密封盖，确保密封胶圈无变形（若胶圈老化，需同步更换），拧紧时力度适中，防止仓体开裂。

2. 窗片：潮解清洁 / 更换（光学通路关键组件）

窗片（通常为石英材质）潮解会导致红外光透过率下降，表现为分析结果信噪比低、峰形异常，需根据潮解程度处理：

情况 1：轻微潮解（表面无裂纹，仅附着水雾 / 污渍）

拆卸窗片：定位窗片安装位（多在样品室与光学系统连接处，或探测器前端），用防静电镊子取下固定压环，小心取出窗片（避免手指直接接触光学面）；

清洁操作：用光学专用无尘布蘸取少量无水乙醇，沿同一方向轻轻擦拭窗片两面（禁止来回擦拭，防止划伤），擦拭后用氮气吹尘枪吹干残留乙醇，放置在干燥皿中备用；

reinstall：确认窗片无污渍后，按原方向装入安装位，压紧压环（力度均匀，防止窗片倾斜导致光路偏移）。

情况 2：严重潮解（表面有裂纹、雾状层无法清洁）直接更换原装窗片：需确保新窗片的尺寸、厚度与原装一致（参考设备说明书参数），安装后检查密封是否良好，避免湿气再次渗入。

3. 红外探测器：潮解维修 / 更换（核心信号转换组件）

红外探测器（如 InSb 探测器）潮解会导致信号无响应或漂移，属于精密电子组件，维修需格外谨慎：

初步判断更换分子筛和窗片后，若设备仍提示 “探测器信号异常”“基线不稳定”，可通过设备自带的 “探测器自检” 功能（参考说明书操作）确认是否为探测器潮解。

维修 / 更换操作

拆卸探测器：关闭设备电源并拔掉电源线，打开设备顶部或后部的光学仓盖板（注意标记线缆连接顺序，避免重装时接错），用防静电螺丝刀拧下探测器固定螺丝，拔下连接线缆（需捏住插头根部，禁止拉扯线缆）；

检查与处理：若探测器外壳无破损，仅内部轻微受潮，可将其放入恒温干燥箱（温度 40-50℃，湿度≤10%）干燥 2-4 小时（需确认探测器耐受温度，避免高温损坏）；若探测器已完全失效（自检无信号），需更换同型号原装探测器（禁止使用非兼容型号，否则会导致光路匹配异常）；

重装与防静电保护：安装新探测器时，务必佩戴防静电手环，按原线缆顺序连接插头，拧紧固定螺丝（力度适中，防止探测器底座变形），盖好光学仓盖板前，检查周围无粉尘、线缆无挤压。

三、维修后校验与测试

组件更换完成后，需通过以下步骤确认维修效果，确保设备恢复正常功能：

密封性测试关闭设备所有舱门，开启设备 “真空干燥” 模式（若有），运行 30 分钟后，检查设备显示的 “内部湿度” 是否≤30%（参考设备正常工作湿度范围），若湿度持续偏高，需排查是否有密封点泄漏（如分子筛仓、窗片安装位）。

光学系统校验使用设备配套的 “标准样品”（如已知成分的结石标准品）进行分析测试，对比维修前后的谱图：

确认谱图基线平稳，无杂峰、毛刺；

关键特征峰的位置、强度与标准谱图一致（误差在设备允许范围内，通常波数误差≤1cm⁻¹）。

长期稳定性测试连续运行设备 2-4 小时，每隔 30 分钟测试一次标准样品，观察谱图重复性（相对标准偏差 RSD≤2%），若稳定性达标，说明维修合格。

四、注意事项与风险规避

静电防护

全程佩戴防静电手环，维修工具需接地（如使用防静电工作台），禁止在维修过程中用手触摸探测器、分束器等精密组件的引脚或光学面。

耗材适配性

干燥分子筛、窗片、探测器均需使用原厂或认证的兼容耗材，非原装耗材可能导致光路不匹配、设备报错，甚至损坏其他组件。